Technologie PVD
CENTRE DE DEMANDE
La possibilité d’étudier, de tester ou de valider les procédés PVD et PECVD dans notre propre centre d’application constitue un argument de vente unique de robeko. Il peut s’agir de tester de nouveaux composants, de développer des prototypes de revêtements ou de tester de nouveaux matériaux. L’équipement qui comprend entre autre des systèmes de pulvérisation en ligne à plusieurs stations, permet de réaliser les processus dans les conditions de la production industrielle en série.

DORO | In-Line Coater
DORO – In-Line Coater:
- Radiant heater -350° C
- DC glow discharge plasma treatment
- AC glow discharge plasma treatment
- SCI Dual Magnetron Plasma Treatment
- 3x PK 750 Magnetrons
- 2x SCI internal mount TC end blocks for 550 mm length dual rotatable targets
- DC, MF, bipolar pulsed and unipolar pulsed power supplies
- Metallic and reactive oxide and nitride coatings
- In-Situ reflectometry measurement
CENTRE DE DEMANDE
La possibilité d’étudier, de tester ou de valider les procédés PVD et PECVD dans notre propre centre d’application constitue un argument de vente unique de robeko. Il peut s’agir de tester de nouveaux composants, de développer des prototypes de revêtements ou de tester de nouveaux matériaux. L’équipement qui comprend entre autre des systèmes de pulvérisation en ligne à plusieurs stations, permet de réaliser les processus dans les conditions de la production industrielle en série.
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- DC glow discharge plasma treatment
- AC glow discharge plasma treatment
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- 2x SCI internal mount TC end blocks for 550 mm length dual rotatable targets
- DC, MF, bipolar pulsed and unipolar pulsed power supplies
- Metallic and reactive oxide and nitride coatings
- In-Situ reflectometry measurement

CENTRE
DE DEMANDE
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La possibilité d’étudier, de tester ou de valider les procédés PVD et PECVD dans notre propre centre d’application constitue un argument de vente unique de robeko. Il peut s’agir de tester de nouveaux composants, de développer des prototypes de revêtements ou de tester de nouveaux matériaux. L’équipement qui comprend entre autre des systèmes de pulvérisation en ligne à plusieurs stations, permet de réaliser les processus dans les conditions de la production industrielle en série.
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- DC glow discharge plasma treatment
- AC glow discharge plasma treatment
- SCI Dual Magnetron Plasma Treatment
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- 2x SCI internal mount TC end blocks for 550 mm length dual rotatable targets
- DC, MF, bipolar pulsed and unipolar pulsed power supplies
- Metallic and reactive oxide and nitride coatings
- In-Situ reflectometry measurement

DÉVELOPPEMENT DE COUCHES
Notre département R&D, composé de 4 scientifiques diplômés en physique et en chimie, se concentre sur le développement et l’essai de nouveaux systèmes de revêtement pour nos clients. Il ne s’agit pas seulement de choisir les bons matériaux et les bonnes séquences de couches, mais nous aidons également nos clients à choisir les bons équipements et les bonnes méthodes pour garantir un résultat optimal, notamment en ce qui concerne les coûts d’investissement totaux à long terme …

DÉVELOPPEMENT DE COUCHES
Notre département R&D, composé de 4 scientifiques diplômés en physique et en chimie, se concentre sur le développement et l’essai de nouveaux systèmes de revêtement pour nos clients. Il ne s’agit pas seulement de choisir les bons matériaux et les bonnes séquences de couches, mais nous aidons également nos clients à choisir les bons équipements et les bonnes méthodes pour garantir un résultat optimal, notamment en ce qui concerne les coûts d’investissement totaux à long terme. Nous soutenons également nos partenaires dans le développement de nouveaux produits qui peuvent être testés sur nos équipements.

DÈVELOPPEMENT
DE COUCHES
DE COUCHES
Notre département R&D, composé de 4 scientifiques diplômés en physique et en chimie, se concentre sur le développement et l’essai de nouveaux systèmes de revêtement pour nos clients. Il ne s’agit pas seulement de choisir les bons matériaux et les bonnes séquences de couches, mais nous aidons également nos clients à choisir les bons équipements et les bonnes méthodes pour garantir un résultat optimal, notamment en ce qui concerne les coûts d’investissement totaux à long terme. Nous soutenons également nos partenaires dans le développement de nouveaux produits qui peuvent être testés sur nos équipements.

ANALYSE IMMÉDIATE
Afin de pouvoir évaluer les résultats obtenus en peu de temps, il est essentiel de disposer d’un bon équipement de base de laboratoire pour l’analyse des revêtements. Des analyses rapides et directes avec des équipements professionnels permettent d’ajuster à court terme les paramètres des tests effectués et donc de minimiser le nombre d’itérations pour obtenir un résultat optimal dans les plus brefs délais.

Fischerscope XDAL
The Fischerscope XDAL is an x-ray fluorescence (XRF) measurement tool for industrial applications. XRF works by exciting the sample material and detecting the characteristic x-ray emission coming from the sample. The collected data can be used to calculate the material composition or the thickness of a multilayer thin film layer stack of a sample. A motorized XYZ unit allows measurement of profiles or x-y film thickness mappings.
Sentech SE 801
The Fischerscope XDAL is an x-ray fluorescence (XRF) measurement tool for industrial applications. XRF works by exciting the sample material and detecting the characteristic x-ray emission coming from the sample. The collected data can be used to calculate the material composition or the thickness of a multilayer thin film layer stack of a sample. A motorized XYZ unit allows measurement of profiles or x-y film thickness mappings.
DEKTAK II A
The Bruker Dektak II A is a tactile profilometer for measuring surface roughness or film thickness on prepared samples.
Tactile profilometers measure the force against a small needle and that is moved lateral to the sample. This force is kept constant by changing the position of that needle via a small piezo in Z direction. The piezo movement is logged and gives a height profile of the sample.
ANALYSE IMMÉDIATE
Afin de pouvoir évaluer les résultats obtenus en peu de temps, il est essentiel de disposer d’un bon équipement de base de laboratoire pour l’analyse des revêtements. Des analyses rapides et directes avec des équipements professionnels permettent d’ajuster à court terme les paramètres des tests effectués et donc de minimiser le nombre d’itérations pour obtenir un résultat optimal dans les plus brefs délais.
Fischerscope XDAL
The Fischerscope XDAL is an x-ray fluorescence (XRF) measurement tool for industrial applications. XRF works by exciting the sample material and detecting the characteristic x-ray emission coming from the sample. The collected data can be used to calculate the material composition or the thickness of a multilayer thin film layer stack of a sample. A motorized XYZ unit allows measurement of profiles or x-y film thickness mappings.
Sentech SE 801
The Fischerscope XDAL is an x-ray fluorescence (XRF) measurement tool for industrial applications. XRF works by exciting the sample material and detecting the characteristic x-ray emission coming from the sample. The collected data can be used to calculate the material composition or the thickness of a multilayer thin film layer stack of a sample. A motorized XYZ unit allows measurement of profiles or x-y film thickness mappings.
DEKTAK II A
The Bruker Dektak II A is a tactile profilometer for measuring surface roughness or film thickness on prepared samples.
Tactile profilometers measure the force against a small needle and that is moved lateral to the sample. This force is kept constant by changing the position of that needle via a small piezo in Z direction. The piezo movement is logged and gives a height profile of the sample.

ANALYSE
IMMÉDIATE
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Afin de pouvoir évaluer les résultats obtenus en peu de temps, il est essentiel de disposer d’un bon équipement de base de laboratoire pour l’analyse des revêtements. Des analyses rapides et directes avec des équipements professionnels permettent d’ajuster à court terme les paramètres des tests effectués et donc de minimiser le nombre d’itérations pour obtenir un résultat optimal dans les plus brefs délais.
Fischerscope XDAL
The Fischerscope XDAL is an x-ray fluorescence (XRF) measurement tool for industrial applications. XRF works by exciting the sample material and detecting the characteristic x-ray emission coming from the sample. The collected data can be used to calculate the material composition or the thickness of a multilayer thin film layer stack of a sample. A motorized XYZ unit allows measurement of profiles or x-y film thickness mappings.
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The Fischerscope XDAL is an x-ray fluorescence (XRF) measurement tool for industrial applications. XRF works by exciting the sample material and detecting the characteristic x-ray emission coming from the sample. The collected data can be used to calculate the material composition or the thickness of a multilayer thin film layer stack of a sample. A motorized XYZ unit allows measurement of profiles or x-y film thickness mappings.
DEKTAK II A
The Bruker Dektak II A is a tactile profilometer for measuring surface roughness or film thickness on prepared samples.
Tactile profilometers measure the force against a small needle and that is moved lateral to the sample. This force is kept constant by changing the position of that needle via a small piezo in Z direction. The piezo movement is logged and gives a height profile of the sample.
